X-RAY無損檢測成像系統-平板探測器 安竹光
高性能的動態平板探測器，圖像好、曝光時間短、成像速度快和讀出速度高等特點，可以實現1x1原圖30fps幀速率，
2x2 binning60fps幀速率，同時提供適用于X射線實時成像應用。
技術參數
規格
探測器類別
非晶硅
閃爍體
CsI GOS
圖像尺寸(mm)
160×130
像素矩陣
1274×1024
像素間距(um)
125
A/D轉換(bits)
16
靈敏度(LSB/nGy, RQA5)
1.4
線性劑量(uGy, RQA5).
40
調制傳遞函數@ 0.5 LP/mm
0.60
調制傳遞函數@ 1.0 LP/mm
0.36
調制傳遞函數@ 2.0 LP/mm
0.16
調制傳遞函數@ 3.0 LP/mm
0.08
殘影(%, 300uGy, 60s)
<0.5
量子探測效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)
0.73
量子探測效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)
0.55
量子探測效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)
0.45
量子探測效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)
0.29
空間分辨率(LP/mm)
4.0
幀速率(fps)
15.
X-射線工作范圍(kV)
40/-/150
傳輸方式
千兆網線
功率(W)
12
電源(V)
DC24
交流電源頻率(Hz)
50/-/60
適配器輸出電壓(V)
24 DC
探測器尺寸(mm)
170×195×16mm
探測器重量(kg,不含線纜)
1.0±0.1
探測器外殼材料
碳板,鋁合金
存儲溫度(oC)
-20/-/55
工作溫度(oC)
5/-/35
存儲和運輸濕度(%RH)
10/-/75
工作濕度(%RH)
10/-/75